ZEISS METROTOM 1500
더욱 고화질로, 더욱 빠르게, 그리고 신뢰할 수 있는 측정 결과.
새로운 진화를 이룬 X선 CT로 높은 수준의 품질 관리가 가능합니다.
ZEISS METROTOM 1500
현재 가장 진보적인 X선 CT
ZEISS METROTOM은 3차원 좌표 측정기에서 축적한 각축의 제어 기술과 초고정밀 위치 결정 스테이지, 고해상도 평면 패널 검출기, 소프트웨어 CALYPSO CT를 채택하는 등 기존의 관찰용 X선 CT와는 차원이 다른 X선 CT입니다. 구조 분석, 기능 검사, 결함 분석과 같은 비파괴 검사 외에도 수지 성형 부품, 알루미늄 다이캐스팅 등 복잡한 공업 제품의 내부 형상 구조 비교 및 내외부 치수의 고정밀 측정까지 광범위한 최상의 솔루션을 제안합니다.
새로운 진화를 이룬 METROTOM으로 높은 수준의 품질 관리가 가능합니다.
ZEISS METROTOM은 기존의 접촉식 스타일러스와 비접촉식 센서가 도달할 수 없는 지점까지 한 번의 스캔으로 워크의 "완전한" 체적 데이터를 "비파괴로" 수집할 수 있습니다. 부품의 절단 작업 없이는 측정 불가능했던 미세한 구멍의 지름이나 좁은 부분도 소프트웨어에서 프로빙이 가능. 더 이상 부품 절단은 필요 없으며 그만큼의 공정 수를 줄일 수 있습니다. 3세대로 출시된 ZEISS METROTOM 1500은 하드웨어 설계를 크게 수정함으로써 기존 모델보다 더욱 선명하고 빠르게 스캔 이미지를 얻을 수 있게 되었습니다. 지금까지 간과했던 내부 결함 검출과 미세한 형상의 비파괴 고속 측정을 가능하게 하는 현재, 가장 진보적인 X선 CT입니다. 진화를 거듭하는 METROTOM이 플라스틱에서 금속까지 다양한 부품의 측정과 검사를 통해 높은 수준의 품질 관리를 실현합니다.
더욱 고화질로
3k 검출기 장착으로 복셀 사이즈가 기존 대비 최대 54% 감소하였습니다. 이로써 동일한 배율이라도 고해상도로 스캔 데이터를 얻을 수 있습니다. 예전보다 선명한 화질을 획득함으로써 내부의 미세 형상 측정과 지금까지 간과했던 내부 결함 검출이 가능해졌습니다.
더욱 빠르게
검출기의 여러 개의 픽셀을 단일 픽셀로 결합하는 비닝 모드를 사용하면 기존의 2k 검출기와 같은 화질일 경우 최대 약 4배 더 빠르게 스캐닝이 가능합니다. 즉, 2k 검출기로 약 7분이 소요되던 스캔이 3k 검출기에서는 2분 이내로 완료됩니다. 동일한 스캔 시간에 많은 검사와 측정을 할 수 있습니다.
그리고 신뢰할 수 있는 측정 결과
세계 최고 수준의 측정 정확도
MPESD of 4.5 + L/50 µm (VDI/VDE 2630 sheet 1.3에 따름)
X선 CT는 ZEISS가 오랜 시간 축적한 측정 능력과 지식을 결집하여 높은 추적성과 신뢰성을 갖춘 계측 방법으로 진화했습니다. 모든 측정 범위에서 측정 정확도가 보장되며 워크의 위치를 변경해도 스캔할 때마다 수동 교정할 필요가 없습니다.
